Микро Скретч Тестер MST для практического определения механических характеристик при разрушении тонких пленок

Метод реализует контролируемое царапание алмазным индентором на выбранном участке образца/изделия при заданном режиме нагрузки и длине царапины. Наконечник индентора (обычно алмаз, сапфир, карбид вольфрама) перемещается по поверхности образца с постоянной, возрастающей или прогрессивной нагрузкой. При определенной критической нагрузке покрытие начнет трескаться, разрушаться и отслаиваться. Критические нагрузки  регистрируются акустическим сенсором (MST и RST) закрепленном на кронштейне царапающего индентора, одновременно их можно визуально зафиксировать посредством оптического микроскопа.

Тестеры — это приборы, предназначенные для измерения твердости поверхности путем царапания. Адгезиметр применяют для исследования любых видов промышленных поверхностей. Например, для измерения прочности слоя плазмы или декоративных защитных пленок.
Машина царапания позволяет выявлять прочность поверхностей и контролировать их качественность.
Процесс осуществляется путем царапания с помощью алмазного наконечника. Последним наносят царапины на образцовом материале. Нагрузка при этом увеличивается постепенно, чтобы максимально четко определить прочность изделия.
Чтобы  работал максимально эффективно, используются акустические датчики. Они определяют критические нагрузки на поверхность.

Технические параметры устройства

• Определяется уровень прилипания поверхности испытуемого материала.
• Измерительное царапание позволяет определять силу трения, глубину проникновения, акустическую эмиссию и другие параметры работы.
• Можно производить оптическое наблюдение.
• Используются индикаторы разного типа.
• Есть возможность использовать даже крупные образцы.
• Тестирование посредством адгезиметра проводится путем многократного прохода алмазным наконечником по материалу.
• Контроль осуществляется в автоматическом режиме.
• Есть промышленная платформа, которая контролирует качественность работы машины царапания.
• Во время производства оборудования соблюдаются все стандарты качества.

Программное обеспечение скретч тестеров

• Появляется изображение в реальном времени.
• Режимы измерительного царапания разные, поэтому можно выбирать подходящий вариант из них и постепенно увеличивать нагрузку на сырье.
• Оцифровка осуществляется в легком режиме.
• Можно настроить систему на контроль определенной царапиной, даже если их много.
• Все выполненные операции записываются в памяти устройства в формате ASCII.
• Кривые данные можно совмещать.
• Отчет о царапинах ведется в автоматическом режиме.

ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ

Измерительный модуль MST, устанавливается на Компактную или Открытую платформу, на которые можно совместно установить дополнительные измерительные модули в любом сочетании по желанию пользователя.

Рис. 2: Модуль Микро Скретч Тестера на балке Платформы с Видеомикроскопом

ОСОБЕННОСТИ ПРИБОРА

Информация о поведении образца одновременно снимается с датчиков:

Глубины проникновения по оси Y (мкм)
Силы трения (Н)
Перемещения по Х (скорость (мм/мин), длина царапания (мм))
Акустической эмиссии
Прилагаемой нагрузки (Н)

• Царапина проводится алмазным индентором конической формы, что исключает погрешности, связанные с влиянием ориентации граней индентора, например, Берковича
• Система активной обратной связи управления нагрузкой позволяет проводить царапание на неплоских поверхностях (сверла, линзы и др.)
• Измерительное царапание с режимом предварительного сканирования для коррекции неровностей поверхности
• Режим «Панорама» в цифровой форме «склеивает» кадры частей царапины друг с другом и синхронизирует с графиком скретч-теста
• Режим «Мультифокус» — режим многократного фотографирования с различной глубиной резкости для получения изображение в резкости по всей глубине
• Проведение классического измерения твёрдости с измерением геометрии отпечатка индентора

ДОПОЛНИТЕЛЬНЫЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ МОДУЛИ Anton Paar TriTec для Открытой или Компактной платформ:

Видеомикроскоп высокого разрешения с увеличением до 4000х (стандартная опция).
Модуль УльтраНаноиндентирования UNHT (Ультрананотвердомер)
Модуль Наноиндентирования NHT² (Ультрананотвердомер)
Модуль Микро-индентирования MHT (Микротвердомер)
Модуль Нано-скретч-тестирования NST
Модуль Атомно-силовой микроскоп Wide ScanAFM
Модуль Конфокальный микроскоп ConScan