НАНО НАНО-СКРЕТЧ-ТЕСТЕР (NST)для наномеханических испытаний, изучения свойств поверхности тонких пленок и покр

Метод реализует контролируемое царапание алмазным индентором на выбранном участке образца/изделия при заданном режиме нагрузки и длине царапины. Наконечник индентора (обычно алмаз, сапфир, карбид вольфрама) перемещается по поверхности образца с постоянной, возрастающей или прогрессивной нагрузкой. При определенной критической нагрузке покрытие начнет трескаться, разрушаться и отслаиваться. Критические нагрузки очень точно регистрируются акустическим сенсором (MST и RST) закрепленном на кронштейне царапающего индентора, одновременно их можно визуально зафиксировать посредством оптического микроскопа.

Тестеры — это приборы, предназначенные для измерения твердости поверхности путем царапания. Адгезиметр применяют для исследования любых видов промышленных поверхностей. Например, для измерения прочности слоя плазмы или декоративных защитных пленок.
Машина царапания позволяет выявлять прочность поверхностей и контролировать их качественность.
Процесс осуществляется путем царапания с помощью алмазного наконечника. Последним наносят царапины на образцовом материале. Нагрузка при этом увеличивается постепенно, чтобы максимально четко определить прочность изделия.
Чтобы  работал максимально эффективно, используются акустические датчики. Они определяют критические нагрузки на поверхность.

Технические параметры устройства

• Определяется уровень прилипания поверхности испытуемого материала.
• Измерительное царапание позволяет определять силу трения, глубину проникновения, акустическую эмиссию и другие параметры работы.
• Можно производить оптическое наблюдение.
• Используются индикаторы разного типа.
• Есть возможность использовать даже крупные образцы.
• Тестирование посредством адгезиметра проводится путем многократного прохода алмазным наконечником по материалу.
• Контроль осуществляется в автоматическом режиме.
• Есть промышленная платформа, которая контролирует качественность работы машины царапания.
• Во время производства оборудования соблюдаются все стандарты качества.

Программное обеспечение скретч тестеров

• Появляется изображение в реальном времени.
• Режимы измерительного царапания разные, поэтому можно выбирать подходящий вариант из них и постепенно увеличивать нагрузку на сырье.
• Оцифровка осуществляется в легком режиме.
• Можно настроить систему на контроль определенной царапиной, даже если их много.
• Все выполненные операции записываются в памяти устройства в формате ASCII.
• Кривые данные можно совмещать.
• Отчет о царапинах ведется в автоматическом режиме.

ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ

Измерительный модуль NST, устанавливается на Компактную, Открытую или Настольную платформу, на которые можно совместно установить дополнительные измерительные модули в любом сочетании по желанию пользователя

Рис. 2: Модуль НаноИндентирования на балке Платформы с Видеомикроскопом

ОСОБЕННОСТИ ПРИБОРА

Информация о поведении образца одновременно снимается с датчиков:

Глубины проникновения по оси Y (мкм)
Силы трения (Н)
Перемещения по Х (скорость (мм/мин), длина царапания (мм))
Акустической эмиссии
Прилагаемой нагрузки (Н)

Царапина проводится алмазным индентором конической формы, что исключает погрешности, связанные с влиянием ориентации граней индентора, например, Берковича

• Система активной обратной связи управления нагрузкой позволяет проводить царапание на неплоских поверхностях (сверла, линзы и др.)
• Измерительное царапание с режимом предварительного сканирования для коррекции неровностей поверхности
• Режим «Панорама» в цифровой форме «склеивает» кадры частей царапины друг с другом и синхронизирует с графиком скретч-теста
• Режим «Мультифокус» — режим многократного фотографирования с различной глубиной резкости для получения изображение в резкости по всей глубине
• Проведение классического измерения твёрдости с измерением геометрии отпечатка индентора

ОБОРУДОВАНИЕ И АКСЕССУАРЫ

	Тиски крепления дисковых образцов Диаметр образца от 10 мм до 30 мм
	Патронный держатель дисковых образцов Диаметр образца от 12 мм до 62 мм
	Держатель для 4-х образцов   Позволяет проводить индентирование нескольких образцов одновременно. Диаметр образца от 10 мм до 25 мм Позволяет выравнивать образцы по высоте Размеры (Д x Ш x В) = 56 x 56 x 43 мм
	Наклоняемый столик   Наклоняемый столик по осям X-Y предназначен для использования в комплекте с UNHT для индентирования мягких материалов типа эластомеры, гели. Столик позволяет настраивать параллельность образца по горизонтали. Ход столика по осям X-Y +/- 2° Чувствительность 4 акрсекунд (20 микрорад) Максимальная нагрузка 20Н
	Модуль наблюдения In Situ   (для OPX и CPX при наличии адаптера) Предназначен для наблюдения в процессе индентирования или скретч-тестирования в точке контакта индентора с поверхностью для прозрачных образцов Камера CCD высокого разрешения c прогрессивной разверткой (черно-белое изображение с разрешением 1280 x 1204 пиксел) Тубус микроскопа с одним объективом на выбор (10x, 20x…) Монохроматическая подсветка: длина волны λ = 627 nm Ручные столики X & Y ( ход 6 x 6 мм) Грубая и тонкая настройки фокусировки (и позиционирования по вертикали) Интеграция с ПО для Индентирования и Скретч тестирования для платформ Anton Paar TriTec
	Защитный акустический кожух   Кожух защищает прибор от внешних вибраций воздуха, громких звуков при проведение особо точных изменрений в нанодиапазоне (предназначен для Компактной CPX и Открытой платформ OPX) Кожух включает: Бетонное основание Девять полимерных виброзащиных ножки (Sylomer®) Размеры кожуха (д x ш x в) 1020 x 805 x 2380 мм
	Климатическая камера   Компактная платформа CPX в климатической камере позволяет установить 2 измерительных модуля и Видеомикроскоп. Рабочий объем: 540 литров Диапазон температур:10 — 40 °C Диапазон относительной влажности: 20 — 90 % Скорости нагрева, охлаждения: −3 K/мин +10 K/мин
	Вакуумная камера Компактная платформа CPX в вакуумной камере позволяет установить 2 измерительных модуля и Видеомикроскоп. Первичный Вакуум Предельный вакуум 10-2 мбар Рабочий вакуум 10-1 мбар Высокий вакуум Предельный вакуум 10-6 мбар Рабочий вакуум 10-4 мбар

СПЕЦИАЛЬНЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ NST

Панорама Царапины

После проведения эксперимента образец автоматически перемещается под микроскоп и проходит съемка Панорамы царапины по всей длине с автоматической склейкой изображений. После чего в окне программное обеспечения появляется изображение царапины, синхронизированное по длине с графиками, что позволяет визуально проводить анализ критических нагрузок по изображению и графикам одновременно с возможностью увеличения фрагмента изображения без потери синхронизации с графиками.

Изображение царапины, синхронизованное в окне с графиками эксперимента

Мультифокусная съемка царапины

Режим «мультифокус» реализует многократную съемку одной и той же части царапины с различной глубиной резкости и программным наложением их друг на друга для получения финального четкого изображения по всей глубине царапины.