Атомно-силовой микроскоп Wide Scan AFM для получения 3D изображений и топографического анализа поверхности
- Под заказ
- Оптом и в розницу
Отправка с 10 октября 2026Цену уточняйте
Атомно-силовой микроскоп WideScanAFM устанавливается на платформы Anton Paar TriTec и является идеальным компонентом системы для получения 3D изображений и топографического анализа поверхности после нано/микро индентирования и нано/микро скретч тестов, нанотрибологических исследований.
• Максимальная область сканирования: 110 x 110 мкм
• Максимальная высота по Z-диапазону : 22 мкм
• Разрешение по Z : 0.34 нм
• Разрешение по X и Y : 1.7 нм
Атомно силовой микроскоп WideScanAFM имеет следующий характеристики:
- Более высокое разрешение, чем у оптического микроскопа для анализа остаточной глубины проникновения при индентировании или скретч тесте.
- Изображения AFM можно получить сразу после экспериментов по наноиндентированию
- Измерение объема отпечатка после индентирования, глубины, и реальной площади контакта
- Проверка результатов индентирования путем сравнения шероховатости образца и геометрии отпечатка
- Определение эффектов вспучивания и прогиба поверхности при индентировании
- Возможность, поиска и визуализации определенной области на поверхности образца до и после наноиндентирования
Нано-скретч тестер и Wide Scan AFM на компактной платформе
Две видеокамеры высокого разрешения интегрированные в AFM
В Модуль AFM интегрирована двойная видеокамера (для визуализации кантилевера сверху и сбоку), что дает возможность непрерывно наблюдать подход и/или сканирование поверхности зондом AFM. Освещение образца происходит светодиодом белого света (регулирование яркости от 0 до 100%).
Это визуализация в программном обеспечении позволяет очень легко провести подвод зонда к поверхности образца и непрерывно наблюдать перемещающийся кантилевер во время сканирования, т.е. во время съемки изображения AFM.
(a) (b)
Две встроенных в AFM видеокамеры, реализующие
(а) Вид сверху и (b) Вид сбоку на кантилевер и поверхность образца
ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ:
Модуль Wide scan AFM
| Модуль Wide Scan | Диапазоны |
| Максимальная область сканирования (a,c) | 110 x 110 мкм |
| Максимальная высота по Z-диапазону (a) | 22 мкм |
| Разрешение по Z (b) | 0.34 нм |
| Разрешение по X и Y (b) | 1.7 нм |
| Средняя линейная ошибка по XY | < 0.6 % |
| Уровень шума по Z (RMS) в основном режиме | 0.4 нм (макс 0.55 нм) |
| Уровень шума по Z (RMS) в динамическом режиме | 0.3 nm (макс 0.55 нм) |
| Настройка кантилевера | автоматическая |
(a) Допуски при производстве сканирующих модулей: ±10%
(b) Рассчитано путем деления максимального диапазона на 16 бит
(c) Максимальный диапазон сканирования при вращении на 45°
| Описание | Диапазоны |
| Диапазон динамических частот | 15 — 300 кГц с разрешением < 0.1 Гц |
| Фазовый контраст | ± 90°с разрешением < 0.05 ° |
| Фазовый угол | 0 — 360 ° |
ТЕХНИЧЕСКОЕ ОПИСАНИЕ:
По этой ссылке Вы можете загрузить техническое описание на модуль Wide Scan AFM — скачать в формате PDF
ДОПОЛНИТЕЛЬНЫЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ МОДУЛИ Anton Paar TriTec для Открытой или Компактной платформ:
Видеомикроскоп высокого разрешения с увеличением до 4000х (стандартная опция).
Модуль УльтраНаноиндентирования UNHT (Ультрананотвердомер)
Модуль Наноиндентирования NHT2 (Ультрананотвердомер)
Модуль Микро-индентирования MHT (Микротвердомер)
Модуль Нано-скретч-тестирования NST (Микротвердомер)
Модуль Микро-скретч-тестирования MST (Микро-скретч-тестер)
Модуль Микро-комби-тестирования MCT (Индентирование и скретч тест в одном модуле)
Конфокальный микроскоп ConScan
- Цена: Цену уточняйте